Металлографический микроскоп CX40M
Металлографический микроскоп CX40M - Универсальный прямой микроскоп с возможностью работы только в отраженном (RL) или отраженном и проходящем свете (RL/TL). Идеальное решение в качестве инспекционной системы, микроскопа для контроля шлифов или металлографического микроскопа. Доступна версия с тринокулярным тубусом и цифровой камерой. Увеличение до 1500 крат, латеральное разрешение до 0,4 мкм.
Удобная и надежная модель для любых задач металлографии, материаловедения и микроэлектроники. Прямой микроскоп с разрешением до 0,4 мкм в латеральной плоскости. Светодиодный осветитель цветовой температуры 3200К (теплый свет галогенных ламп). Наличие поляризатора, возможность работы только в отраженном или отраженном и проходящем свете.
Микроскоп Soptop CX40M выполняется в двух конфигурациях — только для отраженного света (Soptop CX40MR), а также для отраженного и проходящего света (Soptop CX40MRT). При установке осветителя проходящего света, возможно реализовать освещение в светлом поле либо поляризацию. Это крайне удобная опция, когда на микроскопе планируется исследовать фотошаблоны или проводить исследования минералов и прозрачных материалов.
Схема микроскопа CX40M:
- Наклонный тубус с углом наклона окулярных трубок 30 градусов.
Опционально — тринокулярная версия. Поле зрения FN 22 — выдающийся показатель в классе. Диоптрийная коррекция на каждом окуляре. - Осветитель отраженного света. Слоты для поляризатора, анализатора, Юстируемый световой путь с апертурной и полевой диафрагмой. Дополнительные слоты для ND фильтров.
- 3000-3500К «теплый белый» светодиодный источник света. Позволяет получить спектр света близкий к галогенному, приятный для глаз.
- Юстировка апертурной и полевой диафрагмы по центру и по диаметру позволяет получить равномерное поле освещения образца.
- Поляризационный комплект позволяет убрать блики с бликующих поверхностей, проводить исследования в поляризованном свете, контролировать полимерные загрязнения кремниевых пластин и т.д.
- Максимально допустимая высота образца составляет 28 мм при работе на штативе проходящего и отраженного света. При работе на штативе отраженного света, максимальная высота образца составляет 78 мм.
- Шестигранная отвертка М4, позволяющая проводить детальную юстировку микроскопа никогда не потеряется — она надежно фиксируется в штативе.
- Стопор верхнего положения стола позволяет предотвратить повреждение объективов или образца от касания друг друга.
Технические характеристики микроскопа CX40M:
| Оптическая система | Оптическая система с коррекцией на бесконечность. |
| Наблюдательный тубус | 30° бинокулярный тубус, регулировка межзрачкового расстояния: 54мм~75мм, диоптрийная компенсация ±5 дптр.
30° тринокулярный тубус, регулировка межзрачкового: 54мм~75мм, компенсация ±5 дптр, деление потока 0/100 или 50/50 |
| Окуляры | План окуляр с увеличением 10 крат PL10X22мм (FN22)
План окуляр с увеличением 10 крат PL10X22мм (FN22) со шкалой — окуляр-микрометром План окуляр фокусируемый с увеличением 10 крат PL10X22мм (FN22) План окуляр с увеличением 15 крат PL15X16мм (FN16) |
| Объективы | LWD план ахроматические объективы 5X / 10X / 20X / 50Х / 100Х. Металлографическая серия для отраженного и проходящего света |
| Револьвер | Револьвер на 5 объективов, развернутый вовнутрь |
| Устройство фокусировки | Штатив отраженного и проходящего света — ход фокусировки 28 мм, шаг микровинта 0,002 мм. Максимальный размер образца по высоте 28 мм.
Штатив отраженного света — ход фокусировки 28 мм, шаг микровинта 0,002 мм. Максимальный размер образца по высоте 78 мм при опускании стола в нижнее положение. |
| Предметный стол | Механический XY стол с двойным покрытием 175х145 мм, диапазон перемещения по осям X Y: 76х42 мм
Металлическая плита для отраженного света, специальная стеклянная вставка для работы в проходящем свете |
| Отраженный свет | Светодиодный источник отраженного света 5W, 110-220В. Юстируемый оптический путь отраженного света, наличие полевой и апертурной диафрагмы, центровка диафрагм прилагаемым ключом |
| Проходящий свет | Светодиодный источник отраженного света 5W, 110-220В. Юстируемый оптический путь отраженного света, наличие полевой и апертурной диафрагмы, центровка диафрагм прилагаемым ключом |
| Конденсор | N.A.0.9 конденсор с верхней откидывающейся линзой для работы в проходящем свете. Освещение по Келеру |
| Аксессуары | Yellow/neutral/IF550/LBD фильтры для проходящего и отраженного света
C-mount адаптеры: 1X, 0.67X, 0.5X focusing C-mount Интерференционные фильтры для RL: Blue filter ≤ 480nm; Green filter 520nm~570nm; Red filter 630~750nm; White balance filter Объект микрометр для калибровки камеры 0,001 мм |
- Цена: Цену уточняйте